便携式igbt静态参数测试仪

轨道级IGBT模块动态参数测试仪厂家直供。
产品系列
晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

 

二、便携式igbt静态参数测试仪产品特点

独立的动态或静态测试，或动静态一体测试
系统整体寄生电感低于30nH
电流输出能力10A到2000A(短路的5500A)
电压输出能力从50V到1500V
雪崩和短路测试可用。
IGBT测试完全符合IEC 60747-9-2.0版
二极管测试完全兼容测试IEC 60747-2-2.0版
可定制的测试选项
完全符合国际安全标准
提供自动测试平台，实现和自动化机械的无缝连接
无缝数据传输和数据统计分析
*新的图形用户界面
三、便携式igbt静态参数测试仪测试能力

栅较漏电流 IGES ：Ige 0 - 10μA,Vge 0-100V
栅较阀值电压 VGE(th)  ：Vge 0 - 20V ,ice 0-2A
导通特性 VCEsat：Vce 0 - 10V，Ice 0-8000A
开通电阻 Rdson:0.1-500ohm
正向特性 VF:Vf 0 - 10V，If 0.1-2000A
C-E击穿电压 VCES:  Ice 0.1uA-100mA ,Vce 0-10000V
集电极关断电流 ICES: Vce0 - 10000V Ice0.01 - 100mA
测试选件：
夹断电压 VP 

适用于模块类型：
HPD，HP1，HP2，双面散热等封装形式的汽车级模块

晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件